第十讲 介绍典型工艺集成,包括金属化、隔离技术,以及CMOS电路、双极型电路工艺。

第十讲 作业

1、单选题:
通常采用重掺杂硅与金属接触来实现互连系统的欧姆接触,此时硅的掺杂浓度N>     atoms/cm3。‏​‏
选项:
A: 10∧18
B: 10∧19
C: 10∧20
D: 10∧21
答案: 【 10∧19

2、多选题:
‏IC采用铝互连系统时,下列哪种方法可以避免Al-Si的尖楔现象:‌
选项:
A: 在淀积的铝膜中掺入约1%Cu;
B: 在淀积的铝膜中掺入约1%Si;
C: 在淀积铝之前先淀积一薄层TiN薄膜;
D: 在铝膜表面覆盖Si3N4。
答案: 【 在淀积的铝膜中掺入约1%Si;;
在淀积铝之前先淀积一薄层TiN薄膜;

3、多选题:

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