第一章 计算机系统概论

第一章知识点测试

1、单选题:
​要访问64G的内存空间,至少需要的地址线数量为()根。‎
选项:
A: 36
B: 30
C: 34
D: 26
答案: 【 36

2、多选题:
‌下列可用于评价计算机系统性能的非时间指标是()‎
选项:
A: 机器字长
B: 主存容量
C: 存储带宽
D: 总线宽度
答案: 【 机器字长;
主存容量;
存储带宽;
总线宽度

3、多选题:
‏计算机软件包括(0​
选项:
A: 存储器
B: 系统软件
C: 支持软件
D: 应用软件
答案: 【 系统软件;
支持软件;
应用软件

4、多选题:
‍下列属于冯诺依曼结构计算机工作原理的是()‎
选项:
A: 存储程序
B: 程序控制
C: 存储器按地址访问
D: 采用输入输出设备
答案: 【 存储程序;
程序控制

5、填空题:
‌冯诺依曼结构计算机的硬件系统总成包括:()()()()(),各部分功能是什么?结构示意图?​
答案: 【 包括:存储器、控制器、运算器、输入设备、输出设备,并说明各部分功能,画出结构示意图,能指出地址总线、数据总线、控制总线

第二章 数据表示

2.1 机器数及特点随堂测验

1、单选题:
​设计算机字长 8位,设x = -5,  [x]补 为  (     ) (单选)‍
选项:
A: FBH
B: FDH
C: FAH
D: 05H
答案: 【 FBH

2、单选题:
​系列关于补码机器数的描述中错误的是(     ) ( 单选)‍
选项:
A: 数的符号用0和1表示
B: 数值“0”的表示唯一
C: 加法和减法按模进行运算
D: 不可能出现一个数的补码与其原码相同
答案: 【 不可能出现一个数的补码与其原码相同

3、单选题:
​下列关于移吗的描述中,错误的是(     )(单选)‏
选项:
A: IEEE754浮点数的阶码用移码表示
B: 0表示正数的符号,1表示负数的符号
C: 不可能出现同一个数据的补码与移码相同
D:  通过对一个真值加一个偏移量得到
答案: 【 0表示正数的符号,1表示负数的符号

2.2 定点数与浮点数据表示随堂测验

1、单选题:
‏IEEE754浮点数x的二进制存储格式为(41360000)H,其对应的十进制值为(     )  (单选)‎‏‎
选项:
A: 11.5
B: 11.375
C: 11.355
D: 10.385
答案: 【 11.375

2、单选题:
‌某计算机字长8位,机器数 11111111 对应的十进制真值不可能是(      ).(单选)‏‌‏
选项:
A: -1
B: 127
C: 0
D: -128
答案: 【 -128

2.3 数据校验的基本原理随堂测验

1、多选题:
下列编码中码距为2的编码是(    )  (多选)‌
选项:
A: 0011,  1100, 0000, 0101
B: 00 , 11,  01, 10
C: 000,  101,  110
D: 00000,  11100, 00111, 10100
答案: 【 0011,  1100, 0000, 0101;
000,  101,  110

2、多选题:
​下列关于码距与检错与纠错能力的描述中正确的是 (     ) (多选)‏
选项:
A: 码距为1的编码不具备任何检错能力
B: 码距为2的编码具有1位检错能力,但无纠错能力
C: 码距为4的编码可检测出2位错误,并可纠正1位错误
D: 码距为4的编码可检测出2位错误,并可纠正2位错误
答案: 【 码距为1的编码不具备任何检错能力;
码距为2的编码具有1位检错能力,但无纠错能力;
码距为4的编码可检测出2位错误,并可纠正1位错误

3、多选题:
下列关于校验的描述中,正确的是 (     ) (多选)​
选项:
A: 校验码的基本原理就是通过增加校验位提高码距,从而使编码具有检错或纠错能力
B: 码距越大,对应编码的检错与纠错能力就越强
C: 码距越大,所需要的校验信息也就多,对应的编码效率就越低
D: 校验既可采用硬件实现,也可采用软件实现
答案: 【 校验码的基本原理就是通过增加校验位提高码距,从而使编码具有检错或纠错能力;
码距越大,对应编码的检错与纠错能力就越强;
码距越大,所需要的校验信息也就多,对应的编码效率就越低;
校验既可采用硬件实现,也可采用软件实现

2.5 CRC校验随堂测验

1、单选题:
‍假定要传输的数据长度为10位,对每个数据块进行CRC校验,根据CRC校验规则,要能检测并纠正一位错误,对应的CRC码的总位数为(    )(单选)‏
选项:
A: 4
B: 10
C: 13
D: 14
答案: 【 14

2、单选题:
​设G(X)=1011, 某(7,4)CRC校验码的编码序列为C7C6C5C4C3C2C1,假定CRC编码传输过程中最多只能发生一位错误,已知C1位出错时得到的余数是001,则C4位出错时接收方进行校验得到的余数是 (   )(单选)‍
选项:
A: 010
B: 100
C: 011
D: 110
答案: 【 011

3、单选题:
‎设计待校验的信息为8位,假定传输中最多只发生一位错误,采用CRC校验时,生成多项式的二进制位数至少需要 (    )  (单选)‎
选项:
A: 3
B: 4
C: 5
D: 6
答案: 【 5

4、多选题:
‎设待校验的信息长度为 K 位, 生成多项式为G(X),下列关于CRC校验的描述中正确的是(    ) (多选)‌
选项:
A: 只有一位出错时,接收端进行校验得到的余数只与出错位的位置有关,与K位信息的取值和G(X)的取值无关
B: 只有一位出错时,接收端进行校验得到的余数与出错位位置和G(X)的取值有关,与K位信息的取值无关
C: 只有一位出错时,接收端进行校验得到的余数与出错位位置、G(X)及K位信息的取值都有关
D: CRC校验得到的无错结论不一定是正确的
答案: 【 只有一位出错时,接收端进行校验得到的余数与出错位位置和G(X)的取值有关,与K位信息的取值无关;
CRC校验得到的无错结论不一定是正确的

奇偶校验 随堂测验

1、单选题:
‍假设下列字符中有奇偶校验,但没有发生错误,其中采用的是奇校验的是 (     )(单选)​
选项:
A: 11011001
B: 11010111
C: 11010100
D: 11110110
答案: 【 11011001

2、多选题:
‍下列关于奇偶校验的描述中,正确的是 (  )  (多选)‏
选项:
A: 奇校验和偶校验的码距都为1
B: 编码时使用的校验位位数与被校验数据的长度无关
C: 校验时得到的无错结论不可信
D: 校验时得到的有错结论不可信
答案: 【 编码时使用的校验位位数与被校验数据的长度无关;
校验时得到的无错结论不可信

3、多选题:
‍设奇偶校验编码总长度大于3位,下列关于基本奇偶校验检错与纠错能力的描述,正确的是 (   ) (多选)​
选项:
A: 可以检测1位错误
B: 可以检测2位错误
C: 可以检测3位错误
D: 不能纠正错误
答案: 【 可以检测1位错误;
可以检测3位错误;
不能纠正错误

第二章知识点测试

1、单选题:
‏-0.11001101的补码是()‌
选项:
A: 1.00110010
B: 1.00110011
C: 0.11001101
D: 1.11001101
答案: 【 1.00110011

2、单选题:
​字长为32位的机器采用补码数据表示时,其模为()‎
选项:
A: 2
B: 32
C: 2的32次方
D: 2的31次方
答案: 【 2的32次方

3、单选题:
​决定浮点数据表示范围的主要因素是()‍
选项:
A: 阶码的位数
B: 尾数的位数
C: 机器字长
D: 尾数的符号
答案: 【 阶码的位数

4、单选题:
‌CRC校验的本质就是()​
选项:
A: 除法运算
B: 逻辑与运算
C: 模2除运算
D: 减法运算
答案: 【 模2除运算

5、单选题:
‌在CRC校验中,传输过程中没有错误,余数为()‌
选项:
A: 0
B: 1
C: 2
D: 3
答案: 【 0

6、多选题:
​定点数+65的编码方案包括原码、反码、补码、移码和变形补码(设机器字长为8位),下面正确的是()()()()‏
选项:
A: 原码:01000001
B: 反码:10111110
C: 移码:11000001
D: 变形补码:001000001
答案: 【 原码:01000001;
移码:11000001;
变形补码:001000001

7、多选题:
‍以下关于奇偶校验正确的是()‌
选项:
A: 编码与检错简单
B: 编码效率高
C: 奇偶校验既可以检错,又可以纠错
D: 奇偶校验只能检错,不能纠错
答案: 【 编码与检错简单;
编码效率高;
奇偶校验只能检错,不能纠错

8、填空题:
‏请将2021.625D转换成二进制()‍
答案: 【 11111100101.101

9、填空题:
‍将十进制数(20.59375)10转换成IEEE754标准的32位浮点数的二进制存储格式()。‌
答案: 【 41A4C000

10、填空题:
‍若浮点数x的IEEE754标准存储格式位(41360000)16,则该浮点数的十进制数值为()​
答案: 【 11.375

11、填空题:
‍在使用海明码进行数据校验时,如果信息位为10位,需要增加()位冗余位,构成具有海明码校验的码字。‌
答案: 【 4

12、填空题:
‍在CRC校验中,若信息字段代码为1011001,生成多项式为g(x)=x4+x3+1,求其校验字段是()​
答案: 【 1010

13、填空题:
​按照机器字长为8为,-0的反码是()‍
答案: 【 11111111

第三章 运算方法与运算器

3.1 运算方法与运算器随堂测验

1、单选题:
‌定点运算器可直接进行的运算是(   )   (单选)‎
选项:
A: 十进制数加法运算
B: 定点数运算
C: 浮点数运算
D: 定点数和浮点数运算
答案: 【 定点数运算

2、单选题:
​设计计算机字长为 8位 ,两个十进制数 X = -97 ,  Y = 63,  [x]补 - [y]补 的结果为 (      ) (单选)‎
选项:
A: 01100000
B: 11011110
C: 负溢出
D: 正溢出
答案: 【 负溢出

3、多选题:
‏下列关于定点运算溢出的描述中,正确的是 (      )   (多选)‎
选项:
A: 补码数据表时,同号数相加可能发生溢出
B: 补码数据表时,异号数相减可能发生溢出
C: 参加运算的两个数,当作为有符号数和无符号数进行加法运算时,不可能两者都溢出
D: 溢出检测既可用硬件实现,也可用软件实现
答案: 【 补码数据表时,同号数相加可能发生溢出;
补码数据表时,异号数相减可能发生溢出;
溢出检测既可用硬件实现,也可用软件实现

4、多选题:
‎设X为被加(减)数,Y为加(减)数,S为运算结果,均采用补码数据表示,下列关于溢出电路设计的描述中,正确的是(  )  ( 多选)‌
选项:
A: 采用单符号位时,直接用X、Y和S的符号位就可设计溢出监测电路
B: 采用双符号位时,可直接用S的双符号位设计溢出检测电路
C: 采用单符号位时,可直接用X、Y最高有效数据位运算后的进位位和S的进位设计溢出监测电路
D: 对无符号数的加/减运算,可利用运算器的进位信号设计溢出检测电路
答案: 【 采用双符号位时,可直接用S的双符号位设计溢出检测电路;
采用单符号位时,可直接用X、Y最高有效数据位运算后的进位位和S的进位设计溢出监测电路;
对无符号数的加/减运算,可利用运算器的进位信号设计溢出检测电路

3.2 定点数补码加、减运算器设计随堂测验

1、单选题:

‍如图所示为基于FA的运算器:

‍为了利用一位全加器FA并配合使用控制信号P,当P= 0/1时 实现 A、B两个数的加法/减法运算,图中空白方框处电路的逻辑功能应该是(      ) (单选)

​选项:
A: 与门
B: 或门
C: 异或门
D: 非门
答案: 【 异或门

2、多选题:

‍如图所示 为带溢出检测功能的运算器 

‍该电路完成的溢出检测功能是 (     ) (多选)

‍选项:
A: 带符号数的加法溢出检测 
B: 带符号数的加法溢出检测 
C: 无符号数的加法溢出检测 
D: 无符号数减法的溢出检测 
答案: 【 无符号数的加法溢出检测 ;
无符号数减法的溢出检测 

3、多选题:
‍下列关于并行进位的描述中,正确的是(   ) (多选)‏
选项:
A: 并行进位可以提高运算速度
B: 并行进位模式下,各进位位采用不同电路各自产生,相互间不再有依存关系
C: 采用先行进位部件和ALU模块可构建长度可变的并行进位运算器
D: 并行进位只对加法有效,而对减法无效
答案: 【 并行进位可以提高运算速度;
并行进位模式下,各进位位采用不同电路各自产生,相互间不再有依存关系;
采用先行进位部件和ALU模块可构建长度可变的并行进位运算器

4、多选题:
‎四位并行ALU中有两个特殊的输出端,分别是:‏‎G =A3B3+(A3+B3)(A2B2+(A2+B2)(A1B 1+ (A1+B1) A 0B0)) 为 进位产生函数,‏‎P=(B3+A3) (B2+A2)( A1+B1 ) (A0+B0)为进位传递函数‏‎下列关于P、G的描述中,正确的是(   )(多选)‏
选项:
A: 设计P和G的目的是为了构建位数更长的并行 ALU
B: P和G对算术运算和逻辑运算都有意义
C: P的作用是将本片ALU的最低进位输入位传递到本片ALU的最高进位输出端
D: G的作用是根据参与运算的两个数据产生本片ALU的最高进位输出
答案: 【 设计P和G的目的是为了构建位数更长的并行 ALU;
P的作用是将本片ALU的最低进位输入位传递到本片ALU的最高进位输出端;
G的作用是根据参与运算的两个数据产生本片ALU的最高进位输出

3.3 原码一位乘法随堂测验

1、单选题:
‌设计算机字长为8位,X = - 19,对该分别执行算术左移和逻辑左移一位后的结果分别为 (   ) (单选)‎
选项:
A: 11011010 ,  11011010
B: 11110010  , 11110010
C: 11011000 ,  11011000
D: 11110000  , 11110000
答案: 【

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