大学MOOC 集成电路工艺(盐城工学院)1454588161 最新慕课完整章节测试答案
第二讲介绍第2章外延包括外延概述、汽相外延、分子束外延、其它外延、外延层缺陷及检测共五节内容
文章目录
第二讲作业
1、单选题:
VPE制备n+/p-Si,结果pn结进入了衬底,这是什么原因造成的:
选项:
A: 自掺杂效应
B: 互扩散效应
C: 衬底表面没清洗干净的缘故。
D: 掺杂气体不纯
答案: 【 互扩散效应】
2、多选题:
在VPE、MBE、SEG、LPE、SPE、UHV/CVD、MOCVD中,哪种外延方法能生长杂质陡变分布的薄外延层?
选项:
A: MBE
B: VPE、LPE
C: UHV/CVD
D: SEG、SPE
答案: 【 MBE;
UHV/CVD】
3、判断题:
如果外延速率偏低,只要增大外延气体中硅源(如SiCl4)浓度,硅的气相外延速率就会增加。
选项:
A: 正确
B: 错误
答案: 【 错误】
4、填空题:
外延工艺就是在晶体衬底上,用物理的或化学的方法生长 薄膜。
答案: 【 晶体##%_YZPRLFH_%##单晶】
5、填空题:
VPE制备n-/n+ -Si用硅烷为源,硅烷是在 完成的分解。可从下面选择:气相硅片表面n-/n+Si界面
答案: 【 硅片表面】
第三讲介绍第3章热氧化包括SiO2薄膜概述、硅的热氧化、初始氧化阶段及薄氧化层制备等6节内容
第三讲作业
1、单选题:
通常掩膜氧化采用的工艺方法为:
剩余75%内容付费后可查看
